泰治科技为芯片设计公司与测试厂，提供测试数据分析和制程管控，实现海量数据的全生命周期管理，快速分析定位良率异常根因，加速产品NPI进程，并提升大规模生产效率。

系统特点：

➢支持实时和结批触发，全方位管控

➢提供一键下钻式分析，深度挖掘价值

➢提供机台测试过程中的实时趋势和分布

➢支持秒级数据处理和可视化

➢支持大屏展示，简单直观

➢告警方式：邮件告警、MES联动过站、CIM联动停机

ATYMS技术架构

ATYMS系统深度挖掘数据价值：

◉Rule集合：30+标准

◉同时接入并管控机台：1000+

◉分析纬度：100+

◉分析指标：50+

◉呈现形式：10+类图表

◉支持数据量：万亿级(PB级)